F50 系列自动膜厚测量系统能以每秒测绘两个点的速度快速测绘薄膜厚度，一个电动R-Theta 平台可接受标准和定制化夹具，样品直径最大可达450毫米。测绘图案可采用极坐标、矩形或线性方式，您也可以创造自己的测绘方法，并且不受测量点数量的限制，F50软件中內建数十种预定义的测绘图案。
        不同的F50仪器是根据波长范围来加以区分的， 一般较短的波长 (例如F50-UV) 用于测量较薄的薄膜，而较长的波长(例如F50-NIR)则用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。